Teste de semicondutores
21 Aug, 2026
Para chips, PCB, conectores e wafers. O controle de temperatura e umidade de alta precisão simula o armazenamento & ambiente de serviço. O choque térmico verifica rachadurasna embalagem. Walk-in para envelhecimento em lote; O HALT acelera a detecção precoce de falhas em semicondutores.
Para chips, PCB, conectores e wafers. O controle de temperatura e umidade de alta precisão simula o armazenamento & ambiente de serviço. O choque térmico verifica rachadurasna embalagem. Walk-in para envelhecimento em lote; HALT acelera a detecção precoce de falhas em semicondutores.
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