Testen van halfgeleiders
21 Aug, 2026
Voor chips, PCB's, connectoren en wafers. Uiterstnauwkeurige temperatuur-vochtigheidsregeling simuleert opslag & service omgeving. Thermische schokken controleren het kraken van pakketten. Walk-in voor batchveroudering; HALT versnelt de vroegtijdige detectie van storingen voor halfgeleiders.
Voor chips, PCB's, connectoren en wafers. Uiterstnauwkeurige temperatuur-vochtigheidsregeling simuleert opslag & service omgeving. Thermische schokken controleren het kraken van pakketten. Walk-in voor batchveroudering; HALT versnelt de vroegtijdige detectie van storingen voor halfgeleiders.
Vorig: Medische stabiliteitstest
Volgende: Nieuwe energietesten
Laatstenieuws
