Test sui semiconduttori
21 Aug, 2026
Per chip, PCB, connettori e wafer. Il controllo ad alta precisione della temperatura e dell'umidità simula la conservazione & ambiente di servizio. Lo shock termico controlla la rottura della confezione. Walk-in per invecchiamento batch; HALT accelera il rilevamento precoce dei guasti per i semiconduttori.
Per chip, PCB, connettori e wafer. Il controllo ad alta precisione della temperatura e dell'umidità simula la conservazione & ambiente di servizio. Lo shock termico controlla la rottura della confezione. Walk-in per invecchiamento batch; HALT accelera il rilevamento precoce dei guasti per i semiconduttori.
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