Halbleitertests
21 Aug, 2026
Für Chips, Leiterplatten, Steckverbinder und Wafer. Die hochpräzise Temperatur- und Feuchtigkeitsregelung simuliert die Lagerung & Serviceumgebung. Thermoschock prüft die Rissbildung der Verpackung. Walk-in zur Chargenalterung; HALT beschleunigt die frühzeitige Fehlererkennung bei Halbleitern.
Für Chips, Leiterplatten, Steckverbinder und Wafer. Die hochpräzise Temperatur- und Feuchtigkeitsregelung simuliert die Lagerung & Serviceumgebung. Thermoschock prüft die Rissbildung der Verpackung. Walk-in zur Chargenalterung; HALT beschleunigt die frühzeitige Fehlererkennung bei Halbleitern.
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