Halvledertestning
21 Aug, 2026
Til chips, PCB, stik og wafere. Højpræcisions temperatur-\/fugtighedskontrol simulerer opbevaring & servicemiljø. Termisk stød kontrollerer pakkens revner. Walk-in til batch-ældning; HALT accelererer tidlig fejldetektion for halvledere.
Til chips, PCB, stik og wafere. Højpræcisions temperatur-\/fugtighedskontrol simulerer opbevaring & servicemiljø. Termisk stød kontrollerer pakkens revner. Walk-in til batch-ældning; HALT accelererer tidlig fejldetektion for halvledere.
Tidligere: Medicinsk stabilitetstest
Næste: Ny energitest
Senestenyheder
